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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展二次元影像測量儀光柵尺作為重要的分光器件,其性能直接影響整個(gè)系統(tǒng)性能,為更好協(xié)助用戶選擇,在此做一簡要介紹。1、二次元影像測量儀光柵尺分為刻劃光柵、復(fù)制光柵、全息光柵等;2、刻劃光柵是用鉆石刻刀在涂有金屬的表面上機(jī)械刻劃而成;3、復(fù)制光柵是用母光柵復(fù)制而成;4、典型刻劃光柵和復(fù)制光柵的刻槽是三角形;5、全息光柵是由激光干涉條紋光刻而成,全息通常包括正弦刻槽,刻劃光柵具有衍射效率高的特點(diǎn),全息光柵光譜范圍廣,雜散光低,且可作到高光譜分辨率。光柵方程反射式衍射光柵是在襯底上周期地...
查看詳情二次元影像測量儀是工業(yè)化生產(chǎn)非常常見的測量設(shè)備,在對(duì)工件進(jìn)行測量前是要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行掃描,而掃描的結(jié)果會(huì)影響到測量的準(zhǔn)確度,準(zhǔn)確的掃描可以提高其檢測精度,因此在工件掃描環(huán)節(jié)要注意下列事項(xiàng):1、應(yīng)用設(shè)備掃描工件時(shí)要注意遮光,不可以有其余強(qiáng)光的影響。2、掃描環(huán)節(jié)中注意不可以挪動(dòng)工件,要不然會(huì)影響掃描結(jié)果。被測工件的掃描面不可以過度傾斜,要不然會(huì)造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確。3、掃描環(huán)節(jié)中移動(dòng)側(cè)頭時(shí)要注意,不可以讓設(shè)備的側(cè)頭撞上被測工件。掃描挪動(dòng)速度要把控在一定范圍之內(nèi),不可以過快,太快會(huì)對(duì)儀器...
查看詳情塵埃粒子計(jì)數(shù)器是用來測量空氣中微粒的數(shù)量及大小的儀器,從而為空氣潔凈度的評(píng)定提供依據(jù),還可以用于監(jiān)測過濾器的過濾效果。盡管大部分的塵埃粒子計(jì)數(shù)器生產(chǎn)廠家都使用相同的原則,但是每一家的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)都是不一樣的。比如塵埃粒子計(jì)數(shù)器的流量、靈敏度、尺寸范圍和計(jì)數(shù)通道數(shù)量、激光或激光二極管的耐用性、光源的壽命、保持校準(zhǔn)的能力都是需要考慮的重要因素。通常,根據(jù)儀器的規(guī)格和成本來選擇在潔凈室中使用的塵埃粒子計(jì)數(shù)器。細(xì)節(jié)決定成敗,操作起來不算困難的塵埃粒子計(jì)數(shù)器,卻有不少注意事項(xiàng),稍有疏忽,小...
查看詳情恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)中,產(chǎn)品凝露現(xiàn)象產(chǎn)生的原因是,高低溫試驗(yàn)機(jī)環(huán)境溫度升高時(shí),由于熱慣性,產(chǎn)品表面的溫度低于環(huán)境溫度,當(dāng)濕熱的環(huán)境空氣遇到低于露點(diǎn)的產(chǎn)品表面時(shí),水汽就會(huì)凝結(jié)在表面形成露滴并且,如果產(chǎn)品密封,當(dāng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境溫度降低時(shí),產(chǎn)品外殼內(nèi)壁溫度比腔體內(nèi)空氣溫度降溫快,腔體內(nèi)濕熱空氣也會(huì)在產(chǎn)品外殼內(nèi)壁凝結(jié)成露滴。由于大多產(chǎn)品不是*密封的,凝露現(xiàn)象一般出現(xiàn)在升溫階段。這個(gè)時(shí)期的時(shí)候就要多注意一下了。后,凝露作用與產(chǎn)品所用材料、腔體大小、升降溫速率、相對(duì)濕度有關(guān)。材料...
查看詳情三坐標(biāo)測量機(jī)作為一種精密測量儀器,如果維護(hù)和保養(yǎng)及時(shí),就能延長機(jī)器的使用壽命,并使精度得到保障和故障率降低。為了更好地掌握和使用三坐標(biāo)測量機(jī),本文主要針對(duì)三坐標(biāo)測量機(jī)用戶氣源凈化處理及后期氣源維護(hù)等問題提出解決辦法。目前,有的三坐標(biāo)測量機(jī)可以正常使用10~15年,有的三坐標(biāo)測量機(jī)卻事故頻繁,其日常維護(hù)是三坐標(biāo)測量機(jī)保持性能穩(wěn)定的關(guān)鍵,尤其以氣源維護(hù)為主??諝廨S承工作原理三坐標(biāo)測量機(jī)屬于精密測量設(shè)備,大多采用空氣軸承導(dǎo)向,導(dǎo)軌間無摩擦和磨損,可以保持長期的性能均勻性。高壓氣體通...
查看詳情平面度(flatness;planeness),是屬于形位公差中的一種,指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對(duì)理想平面的偏差。平面度誤差是將被測實(shí)際表面與理想平面進(jìn)行比較,兩者之間的線值距離即為平面度誤差值;或通過測量實(shí)際表面上若干點(diǎn)的相對(duì)高度差,再換算以線值表示的平面度誤差值。在傳統(tǒng)的檢測方法中,平面度的測量通常有:塞規(guī)/塞尺測量法、液平面法、激光平面干涉儀測量法(平晶干涉法)、水平儀/數(shù)字水平儀測量法、以及打表測量法。塞尺測量法塞尺主要用于間隙間距的測量,對(duì)平面度的測量只能進(jìn)行...
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